Nomenclatura
Número de passos = m
Unidade = u
Defeitos = d
Oportunidades para o defeito =
o
Rendimento (yield) = Y
Desvio-padrão a curto prazo é a estimativa do desvio-padrão
utilizada no contexto do gráfico de controle:
Desvio-padrão a longo prazo é a estimativa amostral
do desvio-padrão:
Relacionamentos
básicos
Total de oportunidades: to
= u * o
Defeitos por unidade: dpu
=
Defeitos por unidade de oportunidades:
dpo =
=
Defeitos por milhão de oportunidades: dpmo
= dpo*106
Relacionamento do
rendimento
Rendimento de passagem (throughput yield): Yp
= e-dpu
Defeitos por unidade: dpu
= -ln (Yp)
Rendimento acumulado (rolled throughput yield):
Yac =
Total de defeitos por oportunidade: tdpo
= -ln (Yac)
Rendimento normalizado: Y
norm =
Defeitos por unidade normalizada:
dpu norm = -ln(Ynorm)
Índices
Cp – Índice de capacidade para um processo estável,
definido
como
Cpk – Índice de capacidade para um processo estável,
definido como o mínimo entre
Pp – Índice de desempenho, definido como
Ppk – Índice de desempenho, definido como o mínimo
entre
Equações para z
A curto prazo o valor de z
é estimado pelas equações:
A longo prazo o valor de z
é estimado pela equação:
Probabilidade
Processo deslocado
3
= 0,9332
6
= 0,9999966
= 
= 0,9332 
